有源医疗器械检验员培训网之外壳漏电流的测量
1.I类设备，不论其有无应用部分，按图2-3-8用图2-3-5中相应的测量供电电路试验。
用MD1在地和未保护接地外壳的每个部分之间测量。用MD2在未保护接地外壳的各部分之间测量。
2.II类设备，不论其有无应用部分，按图2-3-8用图2-3-5中相应的测量供电电路试验，但不使用保护接地连接和s7。用MD1在外壳和地之间或当外壳有几个部分时，在外壳每一部分与地之间测量。用MD2在外壳的各部分之间或当不止有一个外壳时，在任意两个外壳之间测量。
3.规定与SELV电源相连的设备及内部电源设备，流过外壳不同部分之间的外壳漏电流用图2-3-8中测量装置MD2试验。
规定使用指定1的II类单相供电电源的设备，不论其有无应用部分，应按图2-3-8用图2-3-5的测量供电电路试验，但不使用保护接地连接和S8。
仅当设备本身是1类设备时，才使用设备的保护接地和S8。
4.若设备外壳或外壳的一部分是用绝缘材料制成的，应将最大面积为20cmΧ10cm的金属箔部分紧贴绝缘外壳或外壳的绝缘部分上。为此，可用月0.5N/cm2的力压在绝缘材料上。如有可能，移动金属箔以确定外壳漏电流的最大值。应注意，金属箔不要接触到可能已保护接地的任何外壳金属部件；然而，为保护接地的外壳金属部件，可以金属箔部分地或全部地覆盖。要测量单一故障状态下的外壳漏电流时，金属箔可布置得与外壳的金属部件相接触。当患者或操作者与外壳表面接触的面积可能大于正常人手的尺寸时，金属箔的尺寸按接触面积相应增加。